日本テスト学会第17回学会賞記念講演会
- 主催
- 日本テスト学会
- テーマ
CBT・IRT
13:00-13:20
開会
授賞式
13:20-14:05
日本テスト学会賞記念講演
植野 真臣 氏(電気通信大学・教授)
演題「世界に勝つための日本独自のCBT開発と実践」
14:10-14:40
日本テスト学会論文賞記念講演
前川 眞一 氏(東京工業大学・名誉教授,大学入試センター・客員教授)
演題「項目反応理論におけるモデル変換」
14:40-14:50
休憩
14:50-15:50
セミナー
分寺 杏介 氏 (神戸大学・准教授)
演題「Computer Based Testingの過去・現在・未来」
15:50-15:55
閉会
【申込方法】
下記の専用フォームに必要事項を記入の上、3月11日(月)までにお申込みください。
3月14日(木)前後に招待URLをお知らせします。
※ Zoom接続のサポートは主催者側では行いませんので、ご了承ください。
https://forms.gle/rDXbJL4Y2R62Fhyy6
開催期間 | 2024年3月16日(土) |
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開催地住所 | |
会場 | Zoom |
参加費 | 無料 |
開催情報HP |
http://www.jartest.jp/lectures17.html |
主催者情報 | 〒4648601 名古屋市千種区不老町 名古屋大学大学院教育発達化学研究科 石井秀宗 |
主催者HP | http://www.jartest.jp/index.html |
主催者メール | jartest.17.kinenkouen@gmail.com |